利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针

作者: 崔庆国 ; 张露 ; 谢佳乐 ; 杨秀凡 ; 王俊忠

关键词: 扫描隧道显微镜电化学腐蚀液膜法自动切断电路 STM探针制备

摘要：在深入分析电化学腐蚀原理的基础上,发现了一种提高针尖的尖锐程度的新方法,即：利用下端腐蚀方法得到了比传统的上端腐蚀方法更尖锐的针尖.通过对腐蚀电压、腐蚀溶液浓度、切断时间的研究和分析,总结出下端腐蚀法制备纳米级STM探针的最佳综合条件;并通过对前人方案的修改和完善,研制了一套自动控制切断电路装置,该电路装置可以任意设置切断条件,以此得到不同粗细的针尖;最后将据此制作的纳米级针尖成功地应用于Unisoku-STM仪器的扫描,得到了清晰、稳定的原子级分辨Bi（0001）图像.

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利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针

作者: 崔庆国 ; 张露 ; 谢佳乐 ; 杨秀凡 ; 王俊忠

关键词: 扫描隧道显微镜 电化学腐蚀 液膜法 自动切断电路 STM探针制备

关键词: 扫描隧道显微镜电化学腐蚀液膜法自动切断电路 STM探针制备